Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 378
- Utgitt:
- 15. november 2005
- Dimensjoner:
- 170x248x26 mm.
- Vekt:
- 766 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 3. april 2026
Beskrivelse av Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films.
Brukervurderinger av Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Thin Film Analysis by X-Ray Scattering finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2026 Bokreolen.no
