Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
- Proceedings of the Workkshop, Les Houches, France February 24-March 6, 1987
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 389
- Utgitt:
- 6. desember 2011
- Utgave:
- 11987
- Dimensjoner:
- 173x245x21 mm.
- Vekt:
- 662 g.
-
BLACK NOVEMBER
På lager
Leveringstid:
4-7 virkedager
Forventet levering: 5. desember 2024
Beskrivelse av Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Brukervurderinger av Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Semiconductor Interfaces: Formation and Properties finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
