Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
- Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 300
- Utgitt:
- 13. desember 2011
- Utgave:
- 11979
- Dimensjoner:
- 152x229x17 mm.
- Vekt:
- 466 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 30. november 2024
Beskrivelse av Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.
Brukervurderinger av Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
