Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
- Third Edition
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 689
- Utgitt:
- 31. januar 2003
- Utgave:
- 32003
- Dimensjoner:
- 178x255x38 mm.
- Vekt:
- 1684 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis frakt
Leveringstid:
Ukjent
Beskrivelse av Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
Brukervurderinger av Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
