Utvidet returrett til 31. januar 2025
Om Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

The scanning tunneling and the atomic force microscope, both capable of imaging individual atoms, were crowned with the Physics Nobel Prize in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today. The 1st edition has nurtured numerous beginners and experts since 1993. The 2nd edition is a thoroughly updated version of this 'bible' in the field.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780198754756
  • Bindende:
  • Paperback
  • Sider:
  • 488
  • Utgitt:
  • 17. desember 2015
  • Utgave:
  • 2
  • Dimensjoner:
  • 289x157x30 mm.
  • Vekt:
  • 726 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 20. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025

Beskrivelse av Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

The scanning tunneling and the atomic force microscope, both capable of imaging individual atoms, were crowned with the Physics Nobel Prize in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today. The 1st edition has nurtured numerous beginners and experts since 1993. The 2nd edition is a thoroughly updated version of this 'bible' in the field.

Brukervurderinger av Introduction to Scanning Tunneling Microscopy



Finn lignende bøker
Boken Introduction to Scanning Tunneling Microscopy finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.