Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
del av IOP Concise Physics-serien
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 104
- Utgitt:
- 1. oktober 2015
- Dimensjoner:
- 178x253x8 mm.
- Vekt:
- 178 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 5. januar 2026
Utvidet returrett til 31. januar 2026
Brukervurderinger av Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology finnes i følgende kategorier: