Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Advances in X-Ray Analysis
- Volume 28
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 408
- Utgitt:
- 4. oktober 2011
- Utgave:
- 11985
- Dimensjoner:
- 178x254x21 mm.
- Vekt:
- 780 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 22. mai 2026
Beskrivelse av Advances in X-Ray Analysis
The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.
Brukervurderinger av Advances in X-Ray Analysis
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Advances in X-Ray Analysis finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2026 Bokreolen.no
