Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 432
- Utgitt:
- 18. mai 2015
- Utgave:
- 2
- Dimensjoner:
- 160x238x23 mm.
- Vekt:
- 802 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 20. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025
Beskrivelse av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
Brukervurderinger av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) finnes i følgende kategorier:
- Bedrift og læring > Vitenskap
- > >
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
