Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 237
- Utgitt:
- 21. mars 2021
- Utgave:
- 12020
- Dimensjoner:
- 155x235x0 mm.
- Vekt:
- 454 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 13. april 2026
Beskrivelse av Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm.
Brukervurderinger av Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2026 Bokreolen.no
