Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 156
- Utgitt:
- 21. desember 2018
- Utgave:
- 12019
- Dimensjoner:
- 155x235x9 mm.
- Vekt:
- 454 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 30. mars 2026
Beskrivelse av Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.
Brukervurderinger av Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2026 Bokreolen.no
