Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Semiconductor Material and Device Characterization
del av Wiley - IEEE-serien
del av IEEE Press-serien
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 800
- Utgitt:
- 17. februar 2006
- Utgave:
- 3
- Dimensjoner:
- 243x164x51 mm.
- Vekt:
- 1324 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 20. januar 2025
Utvidet returrett til 31. januar 2025
Om Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Se alle bøkene av Dieter K. (Arizona State University) SchroderBeskrivelse av Semiconductor Material and Device Characterization
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
Brukervurderinger av Semiconductor Material and Device Characterization
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Semiconductor Material and Device Characterization finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
