Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 640
- Utgitt:
- 4. september 2009
- Dimensjoner:
- 164x243x34 mm.
- Vekt:
- 993 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 27. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025
Beskrivelse av Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.
Brukervurderinger av Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
