Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 278
- Utgitt:
- 31 juli 2019
- Dimensjoner:
- 156x234x0 mm.
- Vekt:
- 526 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 12 oktober 2024
Beskrivelse av On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. The book guides readers through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
Brukervurderinger av On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
