Utvidet returrett til 31. januar 2025

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

- Origin, Characterization, Control, and Device Impact

Om Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783319939247
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 438
  • Utgitt:
  • 22. august 2018
  • Utgave:
  • 12018
  • Dimensjoner:
  • 155x235x0 mm.
  • Vekt:
  • 869 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 8. desember 2024

Beskrivelse av Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

Brukervurderinger av Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies



Finn lignende bøker
Boken Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.