Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
- Origin, Characterization, Control, and Device Impact
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 438
- Utgitt:
- 30. januar 2019
- Utgave:
- 12018
- Dimensjoner:
- 155x235x0 mm.
- Vekt:
- 718 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 20. januar 2025
Beskrivelse av Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
Brukervurderinger av Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Bokreolen.no
