Utvidet returrett til 31. januar 2025

Mathematical Challenges in Electron Microscopy

- Volume 232

Om Mathematical Challenges in Electron Microscopy

Mathematical Challenges in Electron Microscopy, Volume 232 of Advances in Imaging and Electron Physics series, highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters. Each chapter is written by an international board of authors.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780443297861
  • Bindende:
  • Hardback
  • Utgitt:
  • 25. november 2024
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 10-20 virkedager etter utgivelsesdato
Forventet levering: 18. desember 2024

Beskrivelse av Mathematical Challenges in Electron Microscopy

Mathematical Challenges in Electron Microscopy, Volume 232 of Advances in Imaging and Electron Physics series, highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters. Each chapter is written by an international board of authors.

Brukervurderinger av Mathematical Challenges in Electron Microscopy



Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.