Utvidet returrett til 31. januar 2025

Electromigration Inside Logic Cells

- Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Om Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783319840413
  • Bindende:
  • Paperback
  • Sider:
  • 118
  • Utgitt:
  • 5. juli 2018
  • Utgave:
  • 12017
  • Dimensjoner:
  • 155x235x0 mm.
  • Vekt:
  • 454 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 19. desember 2024

Beskrivelse av Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Brukervurderinger av Electromigration Inside Logic Cells



Finn lignende bøker
Boken Electromigration Inside Logic Cells finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.