Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Filled with practical examples, this is a comprehensive reference on process reliability for semiconductor process and design engineers.
This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.