Utvidet returrett til 31. januar 2024

Bøker i SpringerBriefs in Reliability-serien

Filter
Filter
Sorter etterSorter Serierekkefølge
  • av Jiann-Shiun Yuan
    647,-

    The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

  • av Cher Ming Tan
    654,-

    Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.